Počet záznamů: 1
TID and SEU testing of the novel X-CHIP-03 monolithic pixel detector
- 1.
SYSNO ASEP 0538009 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název TID and SEU testing of the novel X-CHIP-03 monolithic pixel detector Tvůrce(i) Marčišovská, M. (CZ)
Dudas, D. (CZ)
Havránek, M. (CZ)
Kabátová, A. (CZ)
Kafka, V. (CZ)
Kostina, A. (CZ)
Macková, A. (CZ)
Marcisovský, M. (CZ)
Mitrofanov, S. V. (RU)
Popule, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Romanenko, Oleksandr V. (UJF-V) ORCID, SAI
Tomášek, L. (CZ)
Vrba, V. (CZ)Celkový počet autorů 13 Číslo článku C01043 Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 1748-0221
Roč. 15, č. 1 (2020), s. 1-11Poč.str. 11 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova radiation damage to detector materials (solid state) ; radiation damage to electronic components ; radiation-hard detectors ; radiation-hard electronics Vědní obor RIV BF - Elementární částice a fyzika vys. energií Obor OECD Particles and field physics Vědní obor RIV – spolupráce Ústav jaderné fyziky - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače CEP EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 ; UJF-V - RVO:61389005 UT WOS 000525449100043 EID SCOPUS 85081644298 DOI 10.1088/1748-0221/15/01/C01043 Anotace We present a SEE and TID effect study of the novel monolithic pixel detector, X-CHIP-03, manufactured in a 180 nm SOI technology. The SEU cross section of the custom D flip-flops in the X-CHIP-03 ASIC has been evaluated using accelerated ions with LET ranging from 0.45 to 69 MeVċcm2ċmg−1. The global TID response of the X-CHIP-03 has been evaluated at a dose rate of 16.2 Gyċmin−1. The direct I-V measurements of transistor properties were made under identical radiation conditions using the predecessor X-CHIP-02 ASIC manufactured in the same technology, which contains the transistor testing matrices for TID measurements.
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2021 Elektronická adresa https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/01/C01043
Počet záznamů: 1