Why monitor acoustic emissions during nanomechanical tests?

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0537579
Název	Why monitor acoustic emissions during nanomechanical tests?
Tvůrce(i)	Čtvrtlík, Radim (FZU-D)_{RID, ORCID} Václavek, L. (CZ) Tomáštík, J. (CZ)
Zdroj.dok.	Acta Polytechnica CTU Proceedings, Proceedings of the 14th International Conference on Local Mechanical Properties - LMP 2019, 27. S. 126-130. - Prague : Czech Technical University in Prague, 2020
Konference	International Conference on Local Mechanical Properties /14./, 06.11.2019 - 08.11.2019, Prague
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	acoustic emission * indentation * scratch test * thin films
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0315401

Počet záznamů: 1