Počet záznamů: 1  

Observations on the effect of coating Nano-Tip Apex with a thin layer of dielectric material on both electron and Ion Emission Mechanisms

  1. 1.
    SYSNO ASEP0536984
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    Zařazení RIVNení vybrán druh dokumentu
    NázevObservations on the effect of coating Nano-Tip Apex with a thin layer of dielectric material on both electron and Ion Emission Mechanisms
    Tvůrce(i) Al Soud, A. (JO)
    Boll, T. (DE)
    Knápek, Alexandr (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Mousa, M. S. (JO)
    Celkový počet autorů4
    Zdroj.dok.Fifth edition of International Symposium on Dielectric Materials and Applications. ISyDMA’5 Virtual Edition. - Semlalia : Semlalia Cadi Ayyad University, 2020
    S. 135
    Poč.str.1 s.
    Forma vydáníOnline - E
    AkceInternational Symposium on Dielectric Materials and Applications. ISyDMA’5 /5./
    Datum konání15.04.2020 - 17.04.2020
    Místo konáníSemlalia
    ZeměMA - Maroko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.MA - Maroko
    Klíč. slovafield electron emission ; field ion emission ; epoxylite resin
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECDCoating and films
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    AnotaceThis paper analyses the differences that occurred on field electron emission and ion emission after coating some tungsten tips with a thin layer of dielectric material. Additionally, the mechanism of emission of electrons through channels forming in the dielectric material is described. For the purposes of analysis, the emitters were prepared by coating a tungsten tip with a layer of Epoxylite® resin. A high-resolution scanning electron microscope (HRSEM) was used to scan the tip profile and measure the coating thickness. Field electron microscope (FEM) and Field ion microscope (FIM) have been used to study both: the emission-current distribution and the emission-ions distribution from the composite emitters. Two forms of emission patterns have been observed: a multi-spot pattern, from the clean emitters with irregularity in the substrate, and a bright single- spot pattern, from coated emitters with a high substrate.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2021
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.