Study of electron scattering phenomena of advanced materials by UHV SLEEM/ToF

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0536979
Název	Study of electron scattering phenomena of advanced materials by UHV SLEEM/ToF
Tvůrce(i)	Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Daniel, Benjamin (UPT-D)_RID Zouhar, Martin (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI} Paták, Aleš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Piňos, Jakub (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Radlička, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI}
Zdroj.dok.	Microscopy 2020. S. 95-96. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2020
Konference	Microscopy 2020, 06.10.2020 - 07.10.2020, Lednice
Druh dok.	Abstrakt
Grant	TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	electron scattering phenomena
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0314731

Počet záznamů: 1