Počet záznamů: 1
Sestava pro korelační analýzu vzorků pomocí kryogenní rastrovací elektronové mikroskopie (cryo-SEM) a Ramanovy mikro-spektroskopie
- 1.0536415 - ÚPT 2021 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Hrubanová, Kamila - Ježek, Jan - Láznička, Tomáš - Krzyžánek, Vladislav - Králík, Tomáš - Bernatová, Silvie
Sestava pro korelační analýzu vzorků pomocí kryogenní rastrovací elektronové mikroskopie (cryo-SEM) a Ramanovy mikro-spektroskopie.
[The tool for correlation of cryo-SEM and cryo-Raman spectroscopy.]
Interní kód: APL-2020-05 ; 2020
Technické parametry: Sestava umožňuje pevné uchycení tří druhů držáků vzorků, díky tomu je kompatibilní se třemi komerčními systémy pro kryogenní přípravu vzorku pro cryo-SEM (Leica microsystems, Gatan nebo Quorum). Místo pro umístění těchto držáků vzorků je vyrobeno pomocí 3D tisku z teplotně odolného plastu (ABS). Tato část je umístěna v Dewarově nádobě a obsahuje také uchycení teplotního čidla typu PT100 pro měření hladiny tekutého kryogenu. Odnímatelná Dewarova nádoba je na své spodní části vybavena podstavcem pro přesné posazení na motorizovaný posuvný systém. Sestava motorizovaného posuvného systému umožňující velmi přesný piezo-posuv v ose X a Y je pevně přichycena k ramenu, které je kompatibilní s tělem Ramanova mikro-spektrometru InVia (Renishaw). Díky geometrii tohoto ramena je možné využít originální posuv mikroskopu v ose Z. Rameno je připevněno třemi šrouby. Součástí sestavy je kryt objektivu vyrobený pomocí 3D tisku, jehož součástí je kryt, který je velmi stabilní i při teplotách blížících se teplotě tekutého dusíku při atmosférickém tlaku. Jeho hlavním úkolem je minimalizovat kontaminace způsobené kondenzací vzdušné vlhkosti.
Ekonomické parametry: Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Kamila Hrubanová, Ph.D., dobranska@isibrno.cz
Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TN01000008
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: Cryo-SEM * Raman spectroscopy * electron microscopy
Obor OECD: Electrical and electronic engineering
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0314183
Počet záznamů: 1