In situ high-temperature X-ray diffraction study of Sc-doped titanium oxide nanocrystallites

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0535911
Název	In situ high-temperature X-ray diffraction study of Sc-doped titanium oxide nanocrystallites
Tvůrce(i)	Zenou, V. Y. (IL) Bertolotti, F. (IT) Guagliardi, A. (IT) Toby, B. H. (US) von Dreele, R. B. (US) Bakardjieva, Snejana (UACH-T) [CIT]_{SAI, RID, ORCID}
Korespondující/senior	Zenou, V. Y. - Korespondující autor Bakardjieva, Snejana - Korespondující autor
Zdroj.dok.	Journal of Applied Crystallography. Roč. 53, č. 6 (2020), s. 1452-1461. - : Wiley
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GA18-15613S GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
Institucionální podpora	UACH-T - RVO:61388980
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	Rietveld analysis * Debye function analysis * Ti site-occupancy factor * Sc doping defects * high-resolution transmission electron microscopy * HRTEM image analysis
Jiné zdroje	https://scripts.iucr.org/cgi-bin/sendcif?kc5111sup1 https://journals.iucr.org/j/issues/2020/06/00/kc5111/kc5111sup2.pdf
URL	https://doi.org/10.1107/S1600576720012017
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0314162

Počet záznamů: 1