Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0525525
Název	Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers
Tvůrce(i)	Daghbouj, N. (CZ) Karlík, M. (CZ) Lorinčík, J. (CZ) Polcar, T. (CZ) Callisti, M. (GB) Havránek, Vladimír (UJF-V) [ONF]_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	METAL 2019 - 28th International Conference on Metallurgy and Materials, Conference Proceedings. Č. 944. - Ostrava : TANGER Ltd., 2019
Konference	Metal 2019 - 28th International Conference on Metallurgy and Materials, 22.05.2019 - 24.05.2019, Brno
Číslo článku	949
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UJF-V - RVO:61389005
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	Zr/Nb multilayers * ion irradiation * strain * XRD * SIMS
Spolupracující instituce	České vysoké učení technické v Praze (Česká republika) Univerzita Karlova v Praze (Česká republika) Centrum výzkumu Řež (Česká republika)
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0309638

Počet záznamů: 1