Počet záznamů: 1
Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers
- 1.
SYSNO ASEP 0525525 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers Tvůrce(i) Daghbouj, N. (CZ)
Karlík, M. (CZ)
Lorinčík, J. (CZ)
Polcar, T. (CZ)
Callisti, M. (GB)
Havránek, Vladimír (UJF-V) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 6 Číslo článku 949 Zdroj.dok. METAL 2019 - 28th International Conference on Metallurgy and Materials, Conference Proceedings. - Ostrava : TANGER Ltd., 2019 - ISBN 978-80-87294-92-5 Rozsah stran č. 944 Poč.str. 6 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Metal 2019 - 28th International Conference on Metallurgy and Materials Datum konání 22.05.2019 - 24.05.2019 Místo konání Brno Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova Zr/Nb multilayers ; ion irradiation ; strain ; XRD ; SIMS Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Materials engineering CEP EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UJF-V - RVO:61389005 UT WOS 000539487400154 EID SCOPUS 85079395583 DOI 10.37904/metal.2019.735 Anotace Sputter-deposited Zr/Nb nanometric multilayer films with a periodicity (L) in the range from 6 to 167 nm were subjected to carbon, silicon and copper ion irradiation with low and high fluences at room temperature. The ion profiles, mechanical proprieties, and disordering behavior have been investigated by using a variety of experimental techniques (Secondary Ion Mass Spectrometry - SIMS, nanoindentation, X-ray diffraction - XRD, and scanning transmission electron microscopy - STEM). On the STEM bright field micrographs there is damage clearly visible on the surface side of the multilayer. Deeper, the most damaged and disordered zone, located close to the maximum ion concentration, was observed. The in-depth C and Si concentration profiles obtained from SIMS were not affected by the periodicity of the nanolayers. This is in accordance with SRIM simulations. XRD and electron diffraction analyses suggest a structural evolution in relation to L. After irradiation, Zr (0002) and Nb (110) reflexions overlap for L=6 nm. For the periodicity L > 6 nm the Zr (0002) peak is shifted to higher angles and Nb (110) peak is shifted to lower angles. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2021
Počet záznamů: 1