Počet záznamů: 1
Ion Beam Sputtering for Controlled Synthesis of Thin MAX (MXene) Phases
- 1.
SYSNO 0517818 Název Ion Beam Sputtering for Controlled Synthesis of Thin MAX (MXene) Phases Tvůrce(i) Horák, Pavel (UJF-V) [ONF] RID, ORCID
Vacík, Jiří (UJF-V) [ONF] RID, ORCID, SAI
Bakardjieva, Snejana (UACH-T) [CIT] SAI, RID, ORCID
Cannavó, Antonino (UJF-V) [ONF] ORCID, SAI
Ceccio, Giovanni (UJF-V) [ONF] ORCID, RID, SAI
Kupčík, Jaroslav (UACH-T) [CIT] SAI, RID, ORCID
Klie, R. (US)Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. Roč. 25, S2 (2019), s. 1626-1627. - : Cambridge University Press Konference Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting, 04.08.2019, Portland - 08.08.2019 Druh dok. Abstrakt Grant LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LTAUSA17128 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika Institucionální podpora UACH-T - RVO:61388980 ; UJF-V - RVO:61389005 Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova ion beam sputtering * LEIF Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0303077
Počet záznamů: 1