Graphene surface analysis and layer counting using scanning low energy electron microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0517435
Název	Graphene surface analysis and layer counting using scanning low energy electron microscopy
Tvůrce(i)	Průcha, Lukáš (UPT-D)_ORCID Piňos, Jakub (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Kizovský, Martin (UPT-D) Mikmeková, Eliška (UPT-D)_RID
Zdroj.dok.	5th Edition of the European Graphene Forum 2019. Book of Abstracts. - Lisbon : SETCOR, 2019
Konference	Edition of the European Graphene Forum 2019 /5./, 23.10.2019 - 25.10.2019, Lisbon
Druh dok.	Abstrakt
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	PT
Klíč.slova	graphene analysis * low energy electron microscopy * scanning electron microscopy * layer counting
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0302742

Počet záznamů: 1