Počet záznamů: 1
Studying 2D Materials by Means of Microscopy and Spectroscopy with Low Energy Electrons
- 1.
SYSNO ASEP 0510307 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Studying 2D Materials by Means of Microscopy and Spectroscopy with Low Energy Electrons Tvůrce(i) Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Daniel, Benjamin (UPT-D) RID
Zouhar, Martin (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Piňos, Jakub (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAICelkový počet autorů 8 Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. - : Cambridge University Press - ISSN 1431-9276
Roč. 25, S2 (2019), s. 482-483Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting Datum konání 04.08.2019 - 08.08.2019 Místo konání Portland Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova two-dimensional (2D) materials ; microscopy and spectroscopy ; low energy electrons Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 DOI 10.1017/S1431927619003143 Anotace Two-dimensional (2D) materials have recently become very popular because of their interesting properties and rich application potential. Progress in production of new high quality 2D materials necessitates to study and analyze these materials. Such studies can be performed via scanning electron microscopy with slow and very slow electrons and time-of-flight (ToF) spectroscopy. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2020
Počet záznamů: 1