Počet záznamů: 1
Prospects of Scanning Low Energy Electron Microscopy in Material Science
- 1.
SYSNO ASEP 0501096 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Prospects of Scanning Low Energy Electron Microscopy in Material Science Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Matsuda, K. (JP)Celkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Microscopy - ISSN 2050-5698
Roč. 67, S2 (2018), i18Poč.str. 1 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Symposium of The Japanese Society of Microscopy /61./ Datum konání 11.03.2018 - 11.03.2018 Místo konání Toyama Země JP - Japonsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova low energy electrons ; precipitates Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Nano-materials (production and properties) CEP TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 DOI 10.1093/jmicro/dfy060 Anotace Progress in material science is connected with a precise and accurate knowledge of a relationship between a material structure and its final properties. New, more sensitive method has to be developed to study modern materials. Low energy (<1 keV) and very low energy (<100 eV) scanning electron microscopy (SLEEM) is the excellent tool to study precipitates, surfaces, crystal orientations and even 2D materials in the scale of units of nm. The imaging of the structures is possible in the reflected and in the transmitted modes by one or multichannel detectors to distinguish the angular distribution of emitted electron trajectories. High contrast is obtained especially at very low primary beam energies and even atomic layers or extremely small crystals ca be imaged with high lateral resolution. SLEEM opens huge amount of new possibilities for materials characterization and brings novel information enabling development of advanced materials. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2019
Počet záznamů: 1