Počet záznamů: 1

In-situ držák pro SEM umožňující zobrazování tenkých vzorků s možností práce při vyšších teplotách

SYSNO ASEP	0498267
Druh ASEP	L - Prototyp, funkční vzorek
Zařazení RIV	G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)
Poddruh RIV	Funkční vzorek
Název	In-situ držák pro SEM umožňující zobrazování tenkých vzorků s možností práce při vyšších teplotách
Překlad názvu	In-situ SEM holder for imaging of thin samples with possibility of imaging at high temperature
Tvůrce(i)	Skoupý, Radim (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Celkový počet autorů	2
Rok vydání	2018
Int.kód	APL-2018-09
Technické parametry	In-situ držák pro rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) vybavené kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) pro účely pozorování vzorků při vysokých teplotách. In-situ držák byl navržen pro pozorování velmi tenkých vzorků umístěných na TEM síťkách a to tak, aby bylo možné pozorování v transmisním módu pomocí retraktabilního STEM detektoru. Zároveň in-situ držák umožňuje pozorování vzorků pomocí detektoru pro energiově-disperzní analýzu paprsků rentgenového záření (EDX) a katodoluminiscenčního (CL) detektoru. In-situ držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko). In-situ držák umožňuje pevné uchycení až čtyř TEM sítěk standardních rozměrů (tj. průměr 3.05 mm) na konci ramene směřujícího od základny. Vzdálenost středu TEM sítěk od základny je 17 mm, což zaručuje možnost jeho použití pro většinu komerčně dostupných retraktabilních polovodičových STEM detektorů (testováno na STEM detektorech firmy FEI). Rozsah provozních teplot držáku je v rozmezí od pokojové teploty do 500 K.
Ekonomické parametry	Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Ing. Radim Skoupý, ras@isibrno.cz
Název vlastníka	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
IČ vlastníka	68081731
Kat.výsl.dle nákl.	A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč
Požad. na licenč. popl.	N - Poskytovatel licence nepožaduje licenční poplatek
Číselná identifikace	APL-2018-09
Jazyk dok.	cze - čeština
Země vlastníka	CZ - Česká republika
Klíč. slova	In-situ SEM ; in-situ STEM ; in-situ holder
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Obor OECD	Electrical and electronic engineering
CEP	TG03010046 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Držák velmi tenkých vzorků pro jejich zobrazování v rastrovacím elektronovém mikroskopu (SEM) v transmisním módu pomocí STEM detektoru a zároveň umožňující jejich analýzu pomocí EDX nebo CL detektoru. Veškerá pozorování/analýzy jsou možné v teplotním rozsahu od pokojové teploty po 500 K.
Překlad anotace	A new holder for investigations of very thin specimens in a scanning electron microscope (SEM) in the transmission mode using a STEM detector, enabling analysis by EDX or CL detector. All investigations/analysis are possible in the temperature range from room temperature to 500 K.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2019

Počet záznamů: 1