Počet záznamů: 1  

Reflectivity of a mirror in XUV spectral region (46.9 nm).

  1. 1.
    SYSNO ASEP0484972
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVO - Ostatní
    NázevReflectivity of a mirror in XUV spectral region (46.9 nm).
    Tvůrce(i) Schmidt, Jiří (UFP-V) RID
    Koláček, Karel (UFP-V) RID
    Štraus, Jaroslav (UFP-V) RID
    Frolov, Oleksandr (UFP-V) RID
    Prukner, Václav (UFP-V) RID, ORCID
    Melich, Radek (UFP-V) RID
    Psota, Pavel (UFP-V) RID, ORCID
    Sobota, Jaroslav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Číslo článkuO-05
    Zdroj.dok.Proceedings of the 3rd International Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications, 3rd IW FX & XUVOA. - Prague : Institute of Plasma Physics Czech Academy of Sciences, 2017 / Koláček K. ; Sobota J. - ISBN 978-80-870026-09-0
    Poč.str.26 s.
    Forma vydáníNosič - C
    AkceInternational Workshop on Frontiers of X&XUV Optics and its Applications 2017, 3rd IW FX & XUVOA /3./
    Datum konání04.10.2017 - 06.10.2017
    Místo konáníPrague
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaReflectivity of multilayer mirror in XUV range ; aging of multilayer mirrors
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    Vědní obor RIV – spolupráceÚstav přístrojové techniky - Optika, masery a lasery
    CEPLG15013 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaUFP-V - RVO:61389021 ; UPT-D - RVO:68081731
    AnotaceA focusing mirror as an optical element is used in our applications that require light collection (e.g. for laser ablation studies). A knowledge of the mirror reflectivity is important for determination of focused laser pulse energy, or for determination of local fluencies near the laser focus. The reflectivity of our spherical focusing mirror with(/without) multi-layer coating was measured. Reflection coefficients of this mirror in a long period of time are also reported. Further, the incidence-angle dependence of the XUV reflectivity of flat mirrors is presented as well.
    PracovištěÚstav fyziky plazmatu
    KontaktVladimíra Kebza, kebza@ipp.cas.cz, Tel.: 266 052 975
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.