Počet záznamů: 1  

Ultrathin nanocrystalline diamond films with silicon vacancy color centers via seeding by 2 nm detonation nanodiamonds

  1. 1.
    SYSNO ASEP0482915
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevUltrathin nanocrystalline diamond films with silicon vacancy color centers via seeding by 2 nm detonation nanodiamonds
    Tvůrce(i) Stehlík, Štěpán (FZU-D) RID, ORCID
    Varga, Marián (FZU-D) RID, ORCID
    Štenclová, Pavla (FZU-D) ORCID
    Ondič, Lukáš (FZU-D) RID, ORCID
    Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Pangrác, Jiří (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Vaňek, O. (CZ)
    Lipov, J. (CZ)
    Kromka, Alexander (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
    Celkový počet autorů10
    Zdroj.dok.ACS Applied Materials and Interfaces. - : American Chemical Society - ISSN 1944-8244
    Roč. 9, č. 44 (2017), s. 38842-38853
    Poč.str.12 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovadetonation nanodiamond ; surface chemistry ; hydrogenation ; zeta potential ; nucleation density ; nanocrystalline diamond ; SiV center
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    CEPLD15003 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    GBP108/12/G108 GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000415140800073
    EID SCOPUS85033594722
    DOI10.1021/acsami.7b14436
    AnotaceColor centers in diamonds have shown excellent potential for applications in quantum information processing, photonics, and biology. Here we report chemical vapor deposition (CVD) growth of nanocrystalline diamond (NCD) films as thin as 5−6 nm with photoluminescence (PL) from silicon-vacancy (SiV) centers at 739 nm. Instead of conventional 4−6 nm detonation nanodiamonds (DNDs), we prepared and employed hydrogenated 2 nm DNDs (zeta potential = +36 mV) to form extremely dense (∼1.3 × 1013 cm−2), thin (2 ± 1 nm), and smooth (RMS roughness < 0.8 nm) nucleation layers on an Si/SiOx substrate, which enabled the CVD growth of such ultrathin NCD films in two different and complementary microwave (MW) CVD systems: (i) focused MW plasma with an ellipsoidal cavity resonator and (ii) pulsed MW plasma with a linear antenna arrangement.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.