Počet záznamů: 1
Laser source for dimensional metrology: investigation of an iodine stabilized system based on narrow linewidth 633 nm DBR diode
- 1.0480451 - ÚPT 2018 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Řeřucha, Šimon - Yacoot, A. - Pham, Minh Tuan - Čížek, Martin - Hucl, Václav - Lazar, Josef - Číp, Ondřej
Laser source for dimensional metrology: investigation of an iodine stabilized system based on narrow linewidth 633 nm DBR diode.
Measurement Science and Technology. Roč. 28, č. 4 (2017), s. 1-11, č. článku 045204. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA ČR GB14-36681G; GA MŠMT(CZ) LO1212; GA MŠMT ED0017/01/01; GA TA ČR TE01020233
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: optical metrology * DBR laser diode * frequency stabilization * laser interferometry * dimensional metrology * iodine stabilization * displacement measurement
Obor OECD: Optics (including laser optics and quantum optics)
Impakt faktor: 1.685, rok: 2017
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276231
Počet záznamů: 1