Počet záznamů: 1
Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016
- 1.
SYSNO ASEP 0471851 Druh ASEP V - Výzkumná zpráva Zařazení RIV V – výzkumná zpráva Název Souhrnný report výsledků smluvního výzkumu mezi FZU AV ČR, v.v. i. a HVM Plasma s.r.o. za rok 2016 Překlad názvu Summary report of results of the contract research between FZU AV ČR, v.v. i. and HVM Plasma s.r.o. for 2016 Tvůrce(i) Mates, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Pikna, Peter (FZU-D) RID
Bauerová, Pavla (FZU-D)Vyd. údaje Praha: HVM Plasma, s.r.o, Praha 5, 2017 Poč.str. 60 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova diamond like carbon layers ; Raman spectroscopy ; Atomic Force Microscopy ; Scanning Electron Microscopy ; Focussed Ion Beam ; Energy Dispersive Spectroscopy Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) Další zdroj neveřejné zdroje Anotace Několika diagnostickými metodami byly zkoumány vzorky ochranných vrstev na bázi DLC (Diamond-like-Carbon) na různých substrátech (testovací tělíska i reálné součástky). Pomocí Ramanovské spektroskopie byly vyhodnocovány vazby ve vzorcích pro bližší určení strukturních variací a povrchových modifikací, a to jak pro čerstvě připravené vzorky, tak zejména pro vzorky které prošly různými zátěžovými testy.
Skenovacím elektronovým mikroskopem (SEM) byla zkoumána povrchová struktura vrstev v různých místech vzorků a vyhledávána vhodná testovací místa pro následnou analýzu pomocí Mikroskopu atomárních sil (AFM). Mikroskopem AFM ve speciálních režimech byly měřeny mapy lokálních mechanických vlastností (tření, adheze hrotu, disipace energie, atd.). Na vybraném vzorku byla metodou Focussed Ion Beam (FIB) analyzována struktura průřezu vzorku a dále bylo zdokumentováno prvkové složení v různých tloušťkách vrstvy metodou Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).
Překlad anotace Samples of protective layers based on DLC (Diamond-like-Carbon) on different substrates (test bodies and real components) were studied by several diagnostic methods.
Raman spectroscopy was used for the detection of bindings in order to specify the structural variations, surface modifications both for as-deposited samples and particularly for samples that underwent different stress tests.
Scanning Electron Microscope (SEM) was used to examine the surface structure of layers in different locations on the sample and to search suitable test spots for the subsequent analysis by the Atomic Force Microscope (AFM). AFM in special modes was employed to measure the maps local mechanical properties (friction, tip adhesion, energy dissipation, etc.).
On a selected sample, the cross-sectional structure of the sample was analysed by the Focussed Ion Beam (FIB) and the elemental composition in various thicknesses was documented by the Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (EDS).
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2017
Počet záznamů: 1