The use of Raman spectroscopy for the monitoring of changes in the glass structure of the thin layers caused by ion implantation

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0454066
Název	The use of Raman spectroscopy for the monitoring of changes in the glass structure of the thin layers caused by ion implantation
Tvůrce(i)	Nekvindová, P. (CZ) Švecová, B. (CZ) Staněk, S. (CZ) Vytykačová, S. (CZ) Macková, Anna (UJF-V) [ONF]_{RID, ORCID, SAI} Malinský, Petr (UJF-V) [ONF]_{RID, ORCID, SAI} Machovič, V. (CZ) Špirková, J. (CZ)
Zdroj.dok.	Ceramics - Silikáty. Roč. 59, č. 3 (2015), s. 187-193. - : University of Chemistry and Technology Prague
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GBP108/12/G108 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
	LM2011019 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UJF-V - RVO:61389005
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	glasses * nano particles * Raman spectroscopy * ion implantation
Spolupracující instituce	Vysoká škola chemicko-technologická v Praze (Česká republika) Univerzita Jana Evangelisty Purkyně v Ústí nad Labem (Česká republika)
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0254757

Počet záznamů: 1