6-axis laser interferometry measurement system for a nanometrology standard

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0451173
Název	6-axis laser interferometry measurement system for a nanometrology standard
Tvůrce(i)	Hrabina, Jan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Holá, Miroslava (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Photomechanics 2015. Book of Abstracts and Program. S. 66-69. - Delft : Delft University of Technology, 2015
Konference	Photomechanics 2015, Delft, 25.05.2015-27.05.2015
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	GB14-36681G GA ČR - Grantová agentura ČR
	TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	TA01010995 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0252368

Počet záznamů: 1