Počet záznamů: 1
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech
- 1.
SYSNO 0427312 Název Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech Překlad názvu Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials Tvůrce(i) Malachov, Martin (FZU-D)
Jäger, Aleš (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Sborník přednášek studentské vědecké konference JuveMatter 2013. S. 148-154. - Praha : České vysoké učení technické-nakladatelství ČVUT, 2013 / Kunz J. Konference JuveMatter 2013, Horní Lomná, 09.05.2013-13.05.2013 Druh dok. Konferenční příspěvek (tuzemská konf.) Grant GBP108/12/G043 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova EBSD * crystalography * grain boundary Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0232884
Počet záznamů: 1