Počet záznamů: 1  

Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech

  1. 1.
    SYSNO0427312
    NázevDifrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech
    Překlad názvuElectron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials
    Tvůrce(i) Malachov, Martin (FZU-D)
    Jäger, Aleš (FZU-D) RID, ORCID
    Zdroj.dok. Sborník přednášek studentské vědecké konference JuveMatter 2013. S. 148-154. - Praha : České vysoké učení technické-nakladatelství ČVUT, 2013 / Kunz J.
    Konference JuveMatter 2013, Horní Lomná, 09.05.2013-13.05.2013
    Druh dok.Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Grant GBP108/12/G043 GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    Jazyk dok.cze
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova EBSD * crystalography * grain boundary
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0232884
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.