Počet záznamů: 1
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech
- 1.
SYSNO ASEP 0427312 Druh ASEP K - Konferenční příspěvek (lokální konf.) Zařazení RIV Stať ve sborníku Název Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech Překlad názvu Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials Tvůrce(i) Malachov, Martin (FZU-D)
Jäger, Aleš (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Sborník přednášek studentské vědecké konference JuveMatter 2013. - Praha : České vysoké učení technické-nakladatelství ČVUT, 2013 / Kunz J. - ISBN 978-80-01-05359-1
S. 148-154Poč.str. 7 s. Forma vydání Tištěná - P Akce JuveMatter 2013 Datum konání 09.05.2013-13.05.2013 Místo konání Horní Lomná Země CZ - Česká republika Typ akce CST Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova EBSD ; crystalography ; grain boundary Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GBP108/12/G043 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 Anotace Rozvoj analytických technik řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) umožnil získat velmi přesné mikrostrukturní informace o krystalografii (EBSD) a chemickém složení (EDS) mnoha materiálů. Cílem prezentace je vysvětlit princip SEM-EBSD, demonstrovat jeho možnosti a nastínit jeho využití při analýze hranic zrn v polykrystalickém materiálu. Překlad anotace Current development of analytical techniques in scanning electron microscopy allowed us to obtain precise information about the crystallography and chemical composition of materials. Aim of this work is to explain electron back-scatter diffraction (EBSD) technique and its utilization in grain characterization of polycrystalline materials. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2015
Počet záznamů: 1