Počet záznamů: 1
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech
- 1.Malachov, Martin - Jäger, Aleš
Difrakce zpětně odražených elektronů jako metoda zkoumání hranic zrn v polykrystalických materiálech.
[Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials.]
Sborník přednášek studentské vědecké konference JuveMatter 2013. Praha: České vysoké učení technické-nakladatelství ČVUT, 2013 - (Kunz, J.), s. 148-154. ISBN 978-80-01-05359-1.
[JuveMatter 2013. Horní Lomná (CZ), 09.05.2013-13.05.2013]
http://hdl.handle.net/11104/0232884
Počet záznamů: 1