Počet záznamů: 1
Investigation of Short-term Amplitude and Frequency Fluctuations of Lasers for Interferometry
- 1.
SYSNO ASEP 0397701 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Investigation of Short-term Amplitude and Frequency Fluctuations of Lasers for Interferometry Tvůrce(i) Hrabina, Jan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Holá, Miroslava (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 4 Zdroj.dok. Measurement Science Review. - : Sciendo - ISSN 1335-8871
Roč. 13, č. 2 (2013), s. 63-69Poč.str. 7 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. SK - Slovensko Klíč. slova nanometrology ; laser noise ; AFM ; spectroscopy ; interferometry Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GPP102/11/P820 GA ČR - Grantová agentura ČR GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy EE2.4.31.0016 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy TA02010711 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 UT WOS 000318150800003 EID SCOPUS 84879285234 DOI 10.2478/msr-2013-0014 Anotace One of the limiting factors of accuracy and resolution in laser interferometry is represented by noise properties of the laser powering the interferometer. Amplitude and especially frequency fluctuations of the laser source are crucial in precision distance measurement. Sufficiently high long-term frequency stability of the laser source must be achieved especially in applications in fundamental metrology. Furthermore, the short-term frequency variations are also important primarily for measurements done at high acquisition speeds. This contribution presents practical results of measurements of short-term amplitude and frequency noises of a set of laser sources commonly used in laser interferometry. The influence of the interferometer design and electrical parameters of the detection system are also discussed. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1