Počet záznamů: 1
Atomic force microscopy as a powerful tool of surface nano- and microscale characterization
- 1.
SYSNO ASEP 0395796 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Atomic force microscopy as a powerful tool of surface nano- and microscale characterization Tvůrce(i) Špírková, Milena (UMCH-V) RID, ORCID Zdroj.dok. Programme and The Book of Abstracts. - Herceg Novi : Materials Research Society of Serbia, 2013
S. 13Poč.str. 1 s. Akce Annual Conference YUCOMAT 2013 /15./ Datum konání 02.09.2013-06.09.2013 Místo konání Herceg Novi Země ME - Černá Hora Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. ME - Černá Hora Klíč. slova atomic force microscopy ; surface analysis ; organic - inorganic nanocomposite Vědní obor RIV JI - Kompozitní materiály CEP IAAX08240901 GA AV ČR - Akademie věd Institucionální podpora UMCH-V - RVO:61389013 Pracoviště Ústav makromolekulární chemie Kontakt Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1