Počet záznamů: 1
Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls
- 1.
SYSNO 0389053 Název Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls Tvůrce(i) Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Itoh, T. (JP)
Nakanishi, Y. (JP)
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Nonomura, S. (JP)
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2545-2547. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika MEB061012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd 240826, XE - země EU 7E10061 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova carbon nanowalls * conductive atomic force microscopy * torsion resonance mode * nanostructures Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0217956
Počet záznamů: 1