Počet záznamů: 1
Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls
- 1.
SYSNO ASEP 0389053 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls Tvůrce(i) Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Itoh, T. (JP)
Nakanishi, Y. (JP)
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Nonomura, S. (JP)
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Journal of Non-Crystalline Solids. - : Elsevier - ISSN 0022-3093
Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2545-2547Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova carbon nanowalls ; conductive atomic force microscopy ; torsion resonance mode ; nanostructures Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy MEB061012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd 7E10061 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000310394700148 EID SCOPUS 84865722514 DOI 10.1016/j.jnoncrysol.2011.12.094 Anotace The nanostructure of carbon nanowalls (CNWs) was investigated by Torsion Resonance (TR) Atomic Force Microscopy (AFM). In this dynamic non-contact imaging mode a cantilever oscillates torsionally and the amplitude of oscillations is used for the AFM feedback. The technique includes benefits of the semicontact (tapping) mode and at the same time allows one to measure the local conductivity. Moreover, the phase signal is much stronger and fine structures of the CNWs were observed. We also present a comparison of the results obtained by TR, tapping, and contact modes. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2013
Počet záznamů: 1