Počet záznamů: 1
Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls
- 1.Vetushka, Aliaksi - Itoh, T. - Nakanishi, Y. - Fejfar, Antonín - Nonomura, S. - Ledinský, Martin - Kočka, Jan
Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls.
Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2545-2547. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812
Impakt faktor: 1.597, rok: 2012
http://hdl.handle.net/11104/0217956
Počet záznamů: 1