Počet záznamů: 1
Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls
- 1.VETUSHKA, Aliaksi, ITOH, T., NAKANISHI, Y., FEJFAR, Antonín, NONOMURA, S., LEDINSKÝ, Martin, KOČKA, Jan. Conductive atomic force microscopy on carbon nanowalls. Journal of Non-Crystalline Solids. 2012, 358(17), 2545-2547. ISSN 0022-3093. E-ISSN 1873-4812. Dostupné z: doi: 10.1016/j.jnoncrysol.2011.12.094
Počet záznamů: 1