Local photoconductivity of microcrystalline silicon thin films excited by 442 nm HeCd laser measured by conductive atomic force microscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0386854
Název	Local photoconductivity of microcrystalline silicon thin films excited by 442 nm HeCd laser measured by conductive atomic force microscopy
Tvůrce(i)	Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Stuchlík, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Journal of Non-Crystalline Solids. Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2082-2085. - : Elsevier
Konference	International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors (ICANS) /24./, Nara, 21.08.2011-26.08.2011
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	MEB061012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	no. 240826, XE - země EU
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	amorphous and nanocrystalline silicon films * atomic force microscopy (AFM) * local photoconductivity
URL	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309312000178
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0216097

Počet záznamů: 1