Počet záznamů: 1
Local photoconductivity of microcrystalline silicon thin films excited by 442 nm HeCd laser measured by conductive atomic force microscopy
SYS 0386854 LBL 02575^^^^^2200397^^^450 005 20240103201919.2 014 $a 000310394700037 $2 WOS 014 $a 84865778401 $2 SCOPUS 017 70
$a 10.1016/j.jnoncrysol.2012.01.015 $2 DOI 100 $a 20130110d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng 102 $a NL 200 1-
$a Local photoconductivity of microcrystalline silicon thin films excited by 442 nm HeCd laser measured by conductive atomic force microscopy 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0257058 $1 011 $a 0022-3093 $e 1873-4812 $1 200 1 $a Journal of Non-Crystalline Solids $v Roč. 358, č. 17 (2012), s. 2082-2085 $1 210 $c Elsevier 610 0-
$a amorphous and nanocrystalline silicon films 610 0-
$a atomic force microscopy (AFM) 610 0-
$a local photoconductivity 700 -1
$3 cav_un_auth*0100351 $a Ledinský $b Martin $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100196 $a Fejfar $b Antonín $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0240734 $a Vetushka $b Aliaksi $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100533 $a Stuchlík $b Jiří $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 701 -1
$3 cav_un_auth*0100295 $a Kočka $b Jan $i Tenké vrstvy a nanostruktury $j Thin Films and Nanostructures $p FZU-D $w Thin Films and Nanostructures $4 070 $T Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i. 856 $u http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309312000178
Počet záznamů: 1