Light trapping abilities of silicon thin films measured by Raman spectroscopy

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0386621
Název	Light trapping abilities of silicon thin films measured by Raman spectroscopy
Tvůrce(i)	Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Hakl, M. (CZ) Ondič, Lukáš (FZU-D)_{RID, ORCID} Ganzerová, K. (CZ) Vetushka, Aliaksi (FZU-D)_{RID, ORCID} Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Proceedings of the 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. S. 2431-2433. - München : WIP Wirtschaft und Infrastruktur GmbH & Co Planungs KG, 2012 / Nowak S.
Konference	European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (PVSEC) /17./, 24.09.2012-28.09.2012, Frankfurt
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	7E10061 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	240826, XE - země EU
	LM2011026 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	FR-TI2/736 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	light trapping * polycrystalline silicon (Si) * thin film solar cell * Raman spectoscopy
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0215916

Počet záznamů: 1