0385756 - ÚPT 2013 RIV CZ cze J - Článek v odborném periodiku
Lazar, Josef - Hrabina, Jan - Šerý, Mojmír - Číp, Ondřej - Čížek, Martin
Laserový systém pro odměřování 3D polohy s nanometrovým rozlišením pro mikroskopy.
[Laser system for measurement of the 3D position with nanometre resolution for microscopes.]
Jemná mechanika a optika. Roč. 57, č. 10 (2012), s. 283-286. ISSN 0447-6441
Grant CEP: GA ČR GA102/09/1276; GA TA ČR TA02010711; GA TA ČR TE01020233; GA MŠMT ED0017/01/01; GA ČR GPP102/11/P820
Institucionální podpora: RVO:68081731
Klíčová slova: coordinate position sensing * nanometrology * 3D position * atomic force microscopy * local probe techniques * electron microscopy
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0215570