Počet záznamů: 1
New detection systems of secondary and backscattered electrons for environmental scanning electron microscopes
- 1.
SYSNO ASEP 0379919 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název New detection systems of secondary and backscattered electrons for environmental scanning electron microscopes Tvůrce(i) Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Lencová, B. (CZ)
Zlámal, J. (CZ)
Jirák, J. (CZ)Celkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. - Wembley : EECW Pty Ltd, 2012 - ISBN 978-1-74052-245-8 Rozsah stran 370:1-2 Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22) Datum konání 05.02.2012-09.02.2012 Místo konání Perth Země AU - Austrálie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. AU - Austrálie Klíč. slova environmental scanning electron microscope ; detection systems ; secondary electrons ; backscattered electrons Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GAP102/10/1410 GA ČR - Grantová agentura ČR EE.2.3.20.0103 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace This article is focussed on describing the working principles of newly introduced systems for detecting secondary and backscattered electrons in high pressure conditions of a specimen chamber in environmental scanning electron microscopes. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2013
Počet záznamů: 1