Počet záznamů: 1  

On the reliability of scrape-off layer ion temperature measurements by retarding field analyzers

  1. 1.
    SYSNO ASEP0349320
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevOn the reliability of scrape-off layer ion temperature measurements by retarding field analyzers
    Tvůrce(i) Kočan, M. (FR)
    Gunn, J. P. (FR)
    Komm, Michael (UFP-V) RID, ORCID
    Pascal, J.-Y. (FR)
    Gauthier, E. (FR)
    Bonhomme, G. (FR)
    Zdroj.dok.Review of Scientific Instruments. - : AIP Publishing - ISSN 0034-6748
    Roč. 79, č. 7 (2008), 073502-073502
    Poč.str.10 s.
    Forma vydáníweb - web
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaPlasma ; tokamak ; SOL ; ion temperature ; PIC ; RFA
    Vědní obor RIVBL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    CEPKJB100430602 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z20430508 - UFP-V (2005-2011)
    UT WOS000258179400016
    DOI10.1063/1.2955465
    AnotaceThe retarding field analyzer (RFA) is one of the only widely accepted diagnostics for measurements of ion temperature Ti in the tokamak scrape-off layer. In this paper we analyze some instrumental effects of the RFA and their influence on Ti measurements. It is shown that selective ion transmission through the RFA slit is responsible for an overestimation of Ti by less than 14%, even for a relatively thick slit plate. Therefore, thicker slit plates are preferable, since they reduce, e.g., the risk of melting during off-normal events, and the effect of positive space charge inside the cavity. The influence of the electron repelling grid, as well as misalignment of the slit with respect to the magnetic field on Ti measurements are negligible.
    PracovištěÚstav fyziky plazmatu
    KontaktVladimíra Kebza, kebza@ipp.cas.cz, Tel.: 266 052 975
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.