Počet záznamů: 1
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
- 1.
SYSNO 0338185 Název Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates Překlad názvu Fourierovské fotovodivostní měření tenkých vrstev amorfního křemíku na hrubých opticky neprůhledných a vodivých substrátech Tvůrce(i) Holovský, Jakub (FZU-D) RID, ORCID
Ižák, T. (SK)
Poruba, Aleš (FZU-D) RID
Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Hamers, E.A.G. (NL)Zdroj.dok. ICANS23 - 23rd International Conference on Amorphous and Nanocrystaline Semiconductors. Book of Abstracts. S. 332-332. - Utrecht : Utrecht University, 2009 Konference International Conference on Amorphous and Nanocrystaline Semiconductors /23./ (ICANS23), 23.08.2009-28.08.2009, Utrecht Druh dok. Abstrakt Grant GA202/09/0417 GA ČR - Grantová agentura ČR 38885, XE - země EU CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova thin film silicon * photoconductivity * optical modeling Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0182026
Počet záznamů: 1