Počet záznamů: 1
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
- 1.
SYSNO ASEP 0338185 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates Překlad názvu Fourierovské fotovodivostní měření tenkých vrstev amorfního křemíku na hrubých opticky neprůhledných a vodivých substrátech Tvůrce(i) Holovský, Jakub (FZU-D) RID, ORCID
Ižák, T. (SK)
Poruba, Aleš (FZU-D) RID
Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Hamers, E.A.G. (NL)Zdroj.dok. ICANS23 - 23rd International Conference on Amorphous and Nanocrystaline Semiconductors. Book of Abstracts. - Utrecht : Utrecht University, 2009 - ISBN N
S. 332-332Poč.str. 1 s. Akce International Conference on Amorphous and Nanocrystaline Semiconductors /23./ (ICANS23) Datum konání 23.08.2009-28.08.2009 Místo konání Utrecht Země NL - Nizozemsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova thin film silicon ; photoconductivity ; optical modeling Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/09/0417 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Anotace Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS) is used as an inspection method for thin films of hydrogenated amorphous silicon deposited on aluminium foil and aluminium foil coated with rough SnO2. These structures are part of roll-to-roll solar cell fabrication process. Measurement technique utilizes transparent electrode in a sandwich arrangement. An elaborate calculation procedure is used to correct the measurement for the optical effects in order to obtain spectra of optical absorption coefficient. Correction procedure is based partly on analytical formulae and partly on Monte-Carlo simulations. We compared quality of thin layers deposited by PECVD on glass and aluminium foil with and without rough layer of SnO2. We observed positive effect of aluminium and SnO2 on layer quality and effect of bandgap shift. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1