Počet záznamů: 1  

Relationship between the nanoindentation response of amorphous carbon thin films and the depth profile of their structure

  1. 1.
    0336986 - ÚFM 2010 RIV RO eng A - Abstrakt
    Stoica, A. - Buršíková, V. - Niculescu, A. - Vladoiu, R. - Buršík, Jiří - Klapetek, P. - Bláhová, O.
    Relationship between the nanoindentation response of amorphous carbon thin films and the depth profile of their structure.
    International Balkan Workshop on Applied Physics. Constanta: Ovidius University Press, 2008. s. 111-111. ISBN 978-973-614-415-8.
    [International Balkan Workshop on Apllied Physics /7./. 05.07.2006-07.07.2006, Constanta]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20410507
    Klíčová slova: carbon thin films * PECVD * TVA
    Kód oboru RIV: BL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech

    In this work, we studied the relationship between the nanoindentation response of amorphous carbon thin films and the depth profile of their structure.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0181090

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.