The Morphology of Ni+ implanted structures in PEEK, PET and PI

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0332858
Název	The Morphology of Ni+ implanted structures in PEEK, PET and PI
Tvůrce(i)	Macková, Anna (UJF-V)_{RID, ORCID, SAI} Malinský, Petr (UJF-V)_{RID, ORCID, SAI} Khaibullin, R. I. (RU) Slepička, P. (CZ) Švorčík, V. (CZ) Šlouf, Miroslav (UMCH-V)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Abstract book, 19th International conference on Ion beam analysis. - Cambridge : IOP, Institute of physics, 2009
Konference	19th International conference on Ion beam analysis, Cambridge, 07.09.2009-11.09.2009
Druh dok.	Abstrakt
Grant	LC06041 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
CEZ	AV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
	AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	Ni ion implantation * polymers * depth profiles * RBS * TEM * AFM
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0177986

Počet záznamů: 1