Počet záznamů: 1
Study of responsiveness of near-field terahertz imaging probes
- 1.
SYSNO ASEP 0328516 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Study of responsiveness of near-field terahertz imaging probes Překlad názvu Studie citlivosti čidel pro terahertzové zobrazování v blízkém poli Tvůrce(i) Berta, Milan (FZU-D) ORCID
Kužel, Petr (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kadlec, Filip (FZU-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 3 Zdroj.dok. Journal of Physics D-Applied Physics. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 0022-3727
Roč. 42, č. 15 (2009), 15550/1-15550/6Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova microwave simulations ; terahertz spectroscopy ; near-field probe Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LC512 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000268042200042 DOI 10.1088/0022-3727/42/15/155501 Anotace We report on a study of the near-field sensitivity of a metal-dielectric near-field terahertz probe by time-domain terahertz spectroscopy. The obtained experimental data were analysed using principal component analysis. Principal components corresponding to the changes in the output terahertz pulse upon varying the probe–sample distance and reflecting the local anisotropy in a ferroelectric BaTiO3 crystal were extracted and identified. Simulations of the pulse propagation within a model of the probe revealed very similar independent components. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1