Počet záznamů: 1
Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning
- 1.
SYSNO 0316647 Název Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning Překlad názvu Mikroskopie s lokální sondou s interferometrickým měřením polohy vzorku Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Klapetek, P. (CZ)
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Šerý, Mojmír (UPT-D) RID, SAIZdroj.dok. NanoScale 2008 - 8th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 4th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. S. 20. - Torino : Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, 2008 Konference NanoScale 2008, Torino, 22.09.2008-23.09.2008 Druh dok. Abstrakt CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. IT Klíč.slova interferometry * local probe microscopy * nanometrology Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0166505
Počet záznamů: 1