Počet záznamů: 1  

Local probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning

  1. 1.
    SYSNO0316647
    NázevLocal probe microscopy with interferometric monitoring of the stage nanopositioning
    Překlad názvuMikroskopie s lokální sondou s interferometrickým měřením polohy vzorku
    Tvůrce(i) Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Klapetek, P. (CZ)
    Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Šerý, Mojmír (UPT-D) RID, SAI
    Zdroj.dok. NanoScale 2008 - 8th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 4th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. S. 20. - Torino : Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica, 2008
    Konference NanoScale 2008, Torino, 22.09.2008-23.09.2008
    Druh dok.Abstrakt
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.IT
    Klíč.slova interferometry * local probe microscopy * nanometrology
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0166505
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.