Počet záznamů: 1
Scintillation SE Detector for Variable Pressure Scanning Electron Microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0315080 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Scintillation SE Detector for Variable Pressure Scanning Electron Microscope Překlad názvu Scintilační detektor sekundárních elektronů pro vysokotlaký rastrovací elektronový mikroskop Tvůrce(i) Jirák, Josef (UPT-D) RID
Černoch, P. (CZ)
Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Špinka, J. (CZ)Zdroj.dok. EMC 2008 - 14th European Microscopy Congress - Volume 1: Instrumentation and Methods. - Berlin : Springer, 2008 / Luysberg M. ; Tillmann K. ; Weirich T. - ISBN 978-3-540-85154-7 Rozsah stran s. 559-560 Poč.str. 2 s. Akce EMC 2008 - European Microscopy Congress /14./ Datum konání 01.09.2008-05.09.2008 Místo konání Aachen Země DE - Německo Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova VPSEM ; secondary electrons detector ; scintillatíon detector Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace The article deals with an introduction to signals detection in the variable pressure scanning electron microscope (VPSEM) and to a new scintillation secondary electron detector for VPSEM. The presented successful operation of the detector is supported by images of several specimens. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2009
Počet záznamů: 1