Počet záznamů: 1
High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon
- 1.0308203 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Hovorka, Miloš - Frank, Luděk - Valdaitsev, D. - Nepijko, S. - Elmers, H. - Schönhense, G.
High-pass energy-filtered photoemission electron microscopy imaging of dopants in silicon.
[Studium vlastností dotovaného křemíku pomocí fotoemisní elektronové mikroskopie s využitím energiového filtru.]
Journal of Microscopy. Roč. 230, č. 1 (2008), s. 42-47. ISSN 0022-2720. E-ISSN 1365-2818
Grant CEP: GA ČR GA102/05/2327
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: dopants * energy-filtered imaging * PEEM * silicon
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 1.409, rok: 2008
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0160757
Počet záznamů: 1