Počet záznamů: 1
Characterization of polystyrene and doped polymethylmethacrylate thin layers
SYS 0307936 LBL 02229^^^^^2200277^^^450 005 20240103190026.4 100 $a 20080522d m y slo 03 ba 101 0-
$a eng $d cze 102 $a NL 200 1-
$a Characterization of polystyrene and doped polymethylmethacrylate thin layers 215 $a 5 s. 463 -1
$1 001 cav_un_epca*0253879 $1 011 $a 0957-4522 $e 1573-482X $1 200 1 $a Journal of Materials Science-Materials in Electronics $v Roč. 16, 11-12 (2005), s. 761-765 $1 210 $c Springer 541 1-
$a Charakteristiky tenkých vrstev polystyrenu a dopovaného polymethylmet krystalu $z cze 610 0-
$a dielectrical properties 700 -1
$3 cav_un_auth*0017581 $a Podgrabinski $b T. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0239718 $a Hrabovská $b E. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0219973 $a Švorčík $b V. $y CZ $4 070 701 -1
$3 cav_un_auth*0100914 $a Hnatowicz $b Vladimír $p UJF-V $w Research with Beams of Ions and Neutrons $4 070 $T Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i.
Počet záznamů: 1