Analýza tenkých vrstev metodou SIMS

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0306519
Název	Analýza tenkých vrstev metodou SIMS
Překlad názvu	Analysis of thin films with SIMS
Tvůrce(i)	Lorinčík, Jan (URE-Y)
Zdroj.dok.	Zpravodaj ČVS. Roč. 15, 1/2 (2007), s. 32-40. - : Česká vakuová společnost
Konference	Letní škola vakuové techniky, Štrbské pleso, 04.06.2007-07.06.2007
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
CEZ	AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011)
Jazyk dok.	cze
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	secondary ion mass spectrometry
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0159518

Počet záznamů: 1