Počet záznamů: 1
Advances in imaging and electron physics Vol. 128
- 1.
SYSNO ASEP 0205712 Druh ASEP M - Kapitola v monografii Zařazení RIV C - Kapitola v knize Název Scanning low energy electron microscopy Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Advances in imaging and electron physics Vol. 128 / Hawkes P.. - New York : Elesevier Science, 2003 Rozsah stran s. 309 - 443 Poč.str. 134 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova scanning electron microscope ; low energy SEM ; low energy electron beams Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z2065902 - UPT-D Anotace Extensive review deals with principles of the scanning low energy electron microscopy in all important aspects starting from motivations to lower energy of electrons impinging on the specimen, including problems of interaction of slow electrons with the matter, emission yields, electron optical problems of formation low energy electron beams, detection issues, and general as well as specific questions of the instrumentation, and finishing with presentation of selected application results demonstrating capabilities of this microscopic mode. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2004
Počet záznamů: 1