Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0205683
Název	Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Abstract Booklet of the International Conference NANO'03. s. 26 / Šandera P.. - Brno : FS VUT Brno, 2003
Konference	NANO'03, Brno, 21.09.2003-23.09.2003
Druh dok.	Abstrakt
Grant	IAA1065304 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z2065902 - UPT-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	scanning electron microscope * primary beam energies * objective lenses
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0101296

Počet záznamů: 1