Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0205683
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Zařazení RIV	Není vybrán druh dokumentu
Název	Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Abstract Booklet of the International Conference NANO'03 / Šandera P.. - Brno : FS VUT Brno, 2003 - ISBN 80-214-2486-9 s. 26
Poč.str.	1 s.
Akce	NANO'03
Datum konání	21.09.2003-23.09.2003
Místo konání	Brno
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	scanning electron microscope ; primary beam energies ; objective lenses
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	IAA1065304 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z2065902 - UPT-D
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2004

Počet záznamů: 1