SLEEM Imaging of Doping Patterns in Semiconductors

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0205406
Název	SLEEM Imaging of Doping Patterns in Semiconductors
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} El Gomati, M. M. (GB)
Zdroj.dok.	Proceedings of 5th Multinational Congress on Electron Microscopy. s. 317-318. - Lecce : Rinton Press, 2001 / Dini L. ; Catalano M.
Konference	MCEM '01 /5./ - Multinational Congress on Electron Microscopy, Lecce, 20.09.2001-25.09.2001
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	IAA1065901 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z2065902 - UPT-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	IT
Klíč.slova	UHV SEM * low energy range
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0101020

Počet záznamů: 1