Počet záznamů: 1  

SLEEM Imaging of Doping Patterns in Semiconductors

  1. 1.
    MÜLLEROVÁ, Ilona, FRANK, Luděk, EL GOMATI, M. M. SLEEM Imaging of Doping Patterns in Semiconductors. In: DINI, L., CATALANO, M., eds. Proceedings of 5th Multinational Congress on Electron Microscopy. Lecce: Rinton Press, 2001, s. 317-318. ISBN 1-58949-003-7.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.