Počet záznamů: 1
Surface Cleanliness and Electron Backscattering
- 1.
SYSNO ASEP 0205124 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Surface Cleanliness and Electron Backscattering Tvůrce(i) Steklý, Richard (UPT-D)
Zadražil, Martin (UPT-D)
El Gomati, M. M. (GB)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Book of Abstracts EMAS '99 - 6th European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis. - Konstanz : European Microbeam Analysis Society, 1999
s. 344Poč.str. 1 s. Akce EMAS '99 /6./ - European Workshop on Modern Developments and Applications in Microbeam Analysis Datum konání 03.05.1999-07.05.1999 Místo konání Konstanz Země DE - Německo Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IPP1067701 GA AV ČR - Akademie věd Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2000
Počet záznamů: 1